芯片功能的常用测试手段或方法几种?

芯片功能的常用测试手段或方法几种?

1、软件的实现根据“成电之芯”输入激励和输出响应的数据对比要求,编写了可综合的verilog代码。代码的设计完全按照“成电之芯”的时序要求实现。根据基于可编程器件建立测试平台的设计思想,功能测试平台的构建方法如下:采用可编程逻辑器件进行
电脑教程150